제품 카테고리

반도체 도핑용 6N 결정질 붕소, 첨단 복합재료용 맞춤형 비정질 붕소 분말, 또는 열 관리용 h-BN 등 무엇이 필요하든 저희 기술 영업팀은 고객의 요구를 정확히 파악하고 있습니다.

신제품

분석 능력 및 실험실 표준

핵심 가치 제안

6N(99.9999%) 순도 등급 간의 미묘한 차이는 육안으로 구별할 수 없습니다. 최고급 분석 장비만이 정량적 측정, 검증 및 신뢰할 수 있는 품질 보증을 가능하게 합니다. 보론허브는 공인된 제3자 시험 파트너 네트워크와 자체 품질 관리 시스템을 바탕으로 금속 불순물, 비금속 불순물, 결정 구조, 입자 크기 분포 및 동위원소 존재비를 포괄하는 종합적인 분석 체계를 구축했습니다. 측정 가능한 것은 무엇이든 관리할 수 있습니다.

I. 분석 기능 개요

테스트 카테고리	핵심 장비	탐지 정밀도	테스트 목적
금속 불순물	ICP-MS / GDMS	ppt–ppb 수준	총 불순물 함량 1ppm 이하, 6N 순도 보장
비금속 불순물	C/S/O/N 분석기	ppm 수준	산소, 탄소, 질소 등 주요 불순물을 조절합니다.
결정 구조	XRD	위상 식별 정확도 1% 이내	α형(비정질) 붕소와 β형(결정질) 붕소를 구분하십시오.
입자 크기 및 형태	주사전자현미경(SEM) + 레이저 입자 크기 분석기	D50 편차 ≤ 1%	정밀하고 제어 가능한 입자 크기 분포를 달성하십시오.
동위원소 존재비	ICP-MS / TIMS	0.1 원자%	¹⁰B/¹¹B 동위원소 존재비율을 검증하십시오.

II. 핵심 분석 기기

* ICP-MS(유도결합 플라즈마 질량 분석법)는 금속 불순물 분석에 사용되며, 70개 이상의 원소를 동시에 정량 분석할 수 있고 검출 한계는 ppt 수준까지 낮출 수 있습니다. 모든 분석은 공인된 제3자 연구소에서 수행되며, 모든 분석 보고서는 국제 ISO 17025 표준을 준수합니다.

* GDMS(글로우 방전 질량 분석법)는 고체 시료를 직접 주입하는 방식을 채택하여 시료 전처리 과정에서 발생할 수 있는 오염 위험을 제거하며, ppb 수준의 검출 한계를 갖습니다. 시험 결과는 ICP-MS 데이터의 교차 검증 자료로 활용됩니다.

유도결합 플라즈마 질량 분석기
$X-ray Diffraction Instrument$
X선 회절 기기
주사전자현미경(SEM) + 레이저 입자 크기 분석기

* X선 회절 분석기(XRD)는 브래그 법칙에 따라 결정상과 구조를 식별하며, 상 정량화 정확도는 1% 이내입니다. 비정질 붕소(α상)와 결정질 붕소(β상)를 구분할 수 있습니다.

* SEM(주사전자현미경)은 분말의 미세 형태 및 입자 크기를 관찰하기 위해 1nm 이하의 해상도를 제공합니다.

* 레이저 입자 크기 분석기는 미 산란 이론에 따라 작동하며, D50 편차는 1% 이하이고 측정 범위는 0.02~3500μm입니다.

* 탄소-황-산소-질소 분석기는 ppm 수준의 정밀도로 고주파 연소-적외선 흡수법을 사용하여 산소 및 탄소와 같은 비금속 불순물을 모니터링합니다.

탄소, 황, 산소, 질소 분석기
XRD
ICP-MS/TIMS

III. 테스트 워크플로 및 고객 혜택

BoronHub는 원자재 검사 → 공정 모니터링 → 완제품 출하 → 제3자 독립 검증에 이르는 전 생애주기 품질 추적 시스템을 구현합니다. 모든 제품 배치에 대해 전체 분석 증명서(CoA)가 제공됩니다.

주요 고객 혜택

• 6N 초고순도 정량 검증 — ppb 수준의 분석 데이터는 모든 배치에 대한 품질 일관성을 뒷받침합니다

•공정한 제3자 테스트 — 주요 테스트 항목은 인증된 전문 시험기관에서 독립적으로 완료됩니다.

•국제 표준 준수 — ISO 17025, ASTM 및 기타 표준을 준수하여 전 세계 고객의 품질 감사 요구 사항을 충족합니다.

• 완벽한 배치 추적성 — 모든 로트에 대한 완전한 CoA 문서와 모든 주요 성과 지표에 대한 검증 가능한 기록

좌우명: 측정할 수 있는 것은 통제할 수 있다.